什么是可靠性試驗？

電子元器件的可靠性指標通常采用失效率（X )來表示。而對電子設(shè)備而言，除特種設(shè) 備外，一般是可以修復(fù)的，其可靠性指標往往用平均無故障工作時間（MTBF )來表示。電 子產(chǎn)品的可靠性指標不同千產(chǎn)品的電氣性能指標，它有時間性、綜合性和統(tǒng)計性等特點，它 不能象電氣性能指標那樣直接用儀器儀表測量。一般是通過下面兩種途徑獲得：
一種是產(chǎn)品在現(xiàn)場使用的累積時間和累積失效數(shù)，經(jīng)數(shù)理統(tǒng)計方法處理獲得。這種數(shù)據(jù) 叫產(chǎn)品現(xiàn)場使用可靠性的統(tǒng)計平均值。或者是有計.劃有目的將產(chǎn)品放在現(xiàn)場使用的典型條件 下工作一個規(guī)定的時間，根據(jù)累積工作時間和累積失效數(shù)經(jīng)數(shù)理統(tǒng)計方法處理獲得。這種數(shù)據(jù)叫產(chǎn)品現(xiàn)場可靠性試驗驗證值。獲得產(chǎn)品現(xiàn)場可靠性試驗驗證值的方法叫現(xiàn)場可靠性試 驗.另一種是通過在實驗室里進行可靠性試驗的方法獲得產(chǎn)品的可靠性指標。這種方法是在 實驗室里用一種規(guī)定的及受控的工作條件及環(huán)境條件，模擬現(xiàn)場的使用條件，模擬產(chǎn)品在現(xiàn) 場所遇到的環(huán)境應(yīng)力進行試驗，將累積試驗時間和累積失效數(shù)經(jīng)數(shù)理統(tǒng)計方法處理獲得。這 種數(shù)據(jù)叫產(chǎn)品可靠性試驗的驗證值。
因此，對“什么是可靠性試驗”的理解，可以簡單地說，為評價分析產(chǎn)品的可靠性而進 行的試驗，就叫可靠性試驗。也可以定義為：在試驗室里，用模擬現(xiàn)場工作條件和環(huán)境條件 進行試驗，借以確定設(shè)備可靠性的方法，就叫做可靠性試驗。除特別注明外，通常所稱的可 靠性試驗，就是指這種室內(nèi)的模擬可靠性試驗。

這里應(yīng)該特別指出，電子元器件的可靠性試驗方法和要求與電子設(shè)備的可靠性試驗方法 和要求是不完全一樣的。對電子元器件的可靠性試驗來說，既包含有模擬現(xiàn)場使用條件的一 般失效率試驗，又包含有大應(yīng)力強度的加速壽命試驗。而對電子設(shè)備而言，則是指模擬現(xiàn)場 工作條件和環(huán)境條件而進行的可靠性試驗，這在第二篇和第三篇中將分別進行詳細的闡述。
廣義而言，每種試驗（包括環(huán)境試驗、例行試驗、篩選試驗、可靠性試驗等）的最終目 的都是為了提髙產(chǎn)品質(zhì)量，每當觀察到失效時，都要認真記錄和進行深入細致的失效機理分 析，進行質(zhì)量反饋。所以，任何與故障或故障效應(yīng)有關(guān)的試驗都可認為是可靠性試驗